淺析磨圓度儀影響因素及測(cè)量方法

磨圓度儀影響因素

影響磨圓度儀測(cè)量精度的主要因素有：

1、主軸回轉(zhuǎn)精度。磨圓度儀測(cè)量實(shí)際上是一個(gè)比較測(cè)量的過程，即測(cè)量頭相對(duì)于工件旋轉(zhuǎn)畫出的圓周與被測(cè)輪廓比較，因此主軸的回轉(zhuǎn)精度直接影響測(cè)量結(jié)果的不確定度。

2、工件安裝誤差。包括被測(cè)工件相對(duì)于磨圓度儀中心偏差和被測(cè)工件的中心線相對(duì)于儀器主軸傾斜兩種情況。

3、測(cè)頭形狀和半徑的選擇。正確地選擇觸頭的形狀和半徑，對(duì)測(cè)量圓度誤差是事關(guān)重要的。形狀和半徑的選擇主要根據(jù)工件表面的特性，同時(shí)兼顧工件硬度等因素，為避免表面粗糙度等微觀幾何形狀的影響，不宜采用針形測(cè)頭，而采用球形或斧形測(cè)頭。較小工件可用圓柱形測(cè)頭。硬度較低的工件，用較大半徑的測(cè)頭，以防止工件表面的塑性變形。[2] 

4、測(cè)量力的影響。測(cè)量力的選擇是：被測(cè)表面既不會(huì)產(chǎn)生塑性變形，同時(shí)測(cè)頭與被測(cè)表面保持接觸穩(wěn)定。

圓度測(cè)量有回轉(zhuǎn)軸法、三點(diǎn)法、兩點(diǎn)法、投影法和坐標(biāo)法等方法。

1、回轉(zhuǎn)軸法。

利用精密軸系中的軸回轉(zhuǎn)一周所形成的圓軌跡（理想圓）與被測(cè)圓比較，

兩圓半徑上的差值由電學(xué)式長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)電路處理和電子計(jì)算機(jī)計(jì)算后由顯示儀表指示出圓度誤差，或由記錄器記錄出被測(cè)圓輪廓圖形?；剞D(zhuǎn)軸法有傳感器回轉(zhuǎn)和工作臺(tái)回轉(zhuǎn)兩種形式。前者適用于高精度圓度測(cè)量，后者常用于測(cè)量小型工件。按回轉(zhuǎn)軸法設(shè)計(jì)的圓度測(cè)量工具稱為磨圓度儀。

2、三點(diǎn)法

常將被測(cè)工件置于V形塊中進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)，使被測(cè)工件在V形塊中回轉(zhuǎn)一周，從測(cè)微儀讀出zui大示值和zui小示值，兩示值差之半即為被測(cè)工件外圓的圓度誤差。此法適用于測(cè)量具有奇數(shù)棱邊形狀誤差的外圓或內(nèi)圓，常用2角為90°、120°或72°、108°的兩塊V形塊分別測(cè)量。

3.兩點(diǎn)法

常用千分尺、比較儀等測(cè)量，以被測(cè)圓某一截面上各直徑間zui大差值之半作為此截面的圓度誤差。此法適于測(cè)量具有偶數(shù)棱邊形狀誤差的外圓或內(nèi)圓。

4.投影法

常在投影儀上測(cè)量，將被測(cè)圓的輪廓影像與繪制在投影屏上的兩極限同心圓比較，從而得到被測(cè)件的圓度誤差。此法適用于測(cè)量具有刃口形邊緣的小型工件。

5.坐標(biāo)法

一般在帶有電子計(jì)算機(jī)的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上測(cè)量。按預(yù)先選擇的直角坐標(biāo)系統(tǒng)測(cè)量出被測(cè)圓上若干點(diǎn)的坐標(biāo)值、，通過電子計(jì)算機(jī)按所選擇的圓度誤差評(píng)定方法計(jì)算出被測(cè)圓的圓度誤差。

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