激光粒度分析儀是一種性能優(yōu)良的粒度分布儀，它采用進口的半導體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設(shè)計的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用蠕動循環(huán)泵和微量樣品池兩種進樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；采用高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列先進的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復性好、操作簡便等突出特點，是集激光技術(shù)、計算機技術(shù)、光電子技術(shù)于一體的新一代粒度測試儀器。

    激光粒度分析儀測試時遮光比的選取問題：

    遮光比就是在使用激光粒度儀測試樣品時，配置的樣品懸浮液的濃度，遮光比的正確選擇是激光粒度儀在粒度測試過程中的一個重要的步驟，遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴重關(guān)系到粒度測量結(jié)果的準確性和代表性。

    激光粒度分析儀的測量原理要求在測試過程中，樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則，理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個要求非常難以掌握，因此在實際的粒度測試中，通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大（超過50%）或者過?。ǖ陀?%），遮光比過大時，顆粒的濃度過高，容易發(fā)生二次散射，測量結(jié)果誤差增大；遮光比過低，樣品中顆粒的濃度太低，顆粒數(shù)太少，測試結(jié)果的代表性很差，甚至可能導致測試結(jié)果是無效的，因此在測試過程中，對遮光比的選取要通過反復試驗，以得到正確的測量結(jié)果。

    一般來說，對于比較粗的樣品，遮光比可以選擇的比較高，如20~30%，正常情況可以為10~25%；對于超細的樣品，可以適當降低樣品的遮光比，但一般不要超過40%，這些都是實驗得到的經(jīng)驗數(shù)值，但zui終還需通過反復實驗，找到對應樣品測試時遮光比的*數(shù)值。